聚焦离子束FIB：探索微观世界2025-05-28

超准微观，探索微纳世界！深圳市赛华检测技术有限公司，聚焦离子束FIB技术，揭秘微小奥秘！聚焦离子束FIBFIB相关介绍：FIB（聚焦离子束，Focused Ion beam)是将Ga产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后作用于样品表面，从而表征微观结构或截面的切割制样手段。应用场景：FIB的相关应用芯片电路修改材料截面分析TEM样品制备FIB与...

聚焦离子束FIB：探索微观世界2025-05-28

超准微观，探索微纳世界！深圳市赛华检测技术有限公司，聚焦离子束FIB技术，揭秘微小奥秘！聚焦离子束技术为微观到纳米尺度的材料研究和工程提供了强大的工具。赛华检测作为专业的检测公司，掌握着聚焦离子束FIB技术，为客户提供高质量、高精度的样品加工和分析服务，助力科研和产业创新。聚焦离子束FIBFIB相关介绍：FIB（聚...

FIB测试2025-03-07

背景信息客户PCB盲孔底部疑似断裂，传统切片分析手段可能会对断裂位置造成误判，所以推荐客户通过FIB手段直观的观察到断裂位置的微观形貌及晶格状态。测试位置测试项目FIB+SEM检测设备聚焦离子束 Seiko 3050MS检测标准依客户要求：使用聚焦离子束切割PCB截面样品指定位置，观察切割截面的形貌 ...