免费咨询热线：0755-21062483
当前位置
FIB+SEM项目介绍2026-01-20
聚焦离子束-扫描电镜双束系统(FIB-SEM)是一种将聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)相结合的高端分析仪器，通过整合气体沉积装置、纳米操纵仪等附件，实现微区成像、加工和三维重构功能。该系统利用离子束进行样品切割、刻蚀或沉积处理，同时借助电镜进行纳米级分辨率成像，广泛应用于半导体、新能源和材料科学领域。代表...
以诚立身，信守承诺赢信赖
深耕领域，精湛技术保品质
贴心响应，全程无忧暖客户
技术致新，生态共建造无忧
严控细节，坚守担当保质量
全国咨询热线（Tel）：
地址：深圳市光明区玉塘街道田寮社区同仁路盛荟红星创智广场 402E
热门认证
关于我们
扫一扫，关注我们
版权所有©深圳市赛华检测技术有限公司 粤ICP备2023072023号 XML地图
在线咨询 
报告查询